A MULTIBIT TEST TRIGGER-CIRCUIT FOR MEGABIT SRAMS

被引：2

作者：

MIYAJI, F

EMORI, T

MATSUYAMA, Y

KANAISHI, Y

SENO, K

HAGIWARA, Y

机构：

[1] Research and Development Division, Semiconductor Group, Sony Corporation, Atsugi

来源：

IEEE JOURNAL OF SOLID-STATE CIRCUITS | 1990年 / 25卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1109/4.50286

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

— This paper proposes a newly developed multibit test (MBT) trigger circuit for megabit SRAM packages with no unused pins. The unique features of the MBT trigger circuit are a logic trigger mode without using any additional pins and practical use of counter circuits. © 1990 IEEE

引用

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