TEMPERATURE-DEPENDENCE OF CHARGE GENERATION AND BREAKDOWN IN SIO2

被引：24

作者：

TZOU, JJ

YAO, CC

CHEUNG, R

CHAN, H

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/EDL.1986.26431

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：446 / 448

页数：3

共 5 条

[1]

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