QUANTITATIVE STRUCTURAL DETERMINATION OF METALLIC FILM GROWTH ON A SEMICONDUCTOR CRYSTAL - (SQUARE-ROOT-3)R30-DEGREES-](1X1) PB ON GE(111) - COMMENT

被引：6

作者：

DEV, BN

机构：

[1] Institute of Physics

来源：

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.64.1182

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：1182 / 1182

页数：1

共 4 条

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