COMMENT ON - HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY APPLIED TO MEASUREMENTS OF SMALL STATIC DISPLACEMENTS OF DIFFUSELY REFLECTING SURFACES

被引:4
作者
VEST, CM [1 ]
机构
[1] UNIV MICHIGAN,DEPT MECH ENGN,ANN ARBOR,MI 48104
来源
APPLIED OPTICS | 1973年 / 12卷 / 03期
关键词
D O I
10.1364/AO.12.000612
中图分类号
O43 [光学];
学科分类号
070207 ; 0803 ;
摘要
引用
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页数:2
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