COMMENT ON - HOLOGRAPHIC INTERFEROMETRY APPLIED TO MEASUREMENTS OF SMALL STATIC DISPLACEMENTS OF DIFFUSELY REFLECTING SURFACES

被引：4

作者：

VEST, CM ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV MICHIGAN,DEPT MECH ENGN,ANN ARBOR,MI 48104

来源：

APPLIED OPTICS | 1973年 / 12卷 / 03期

关键词：

D O I：

10.1364/AO.12.000612

中图分类号：

O43 [光学];

学科分类号：

070207 ; 0803 ;

摘要：

引用

页码：612 / 613

页数：2

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