SINGLE-EVENT UPSET (SEU) IN A DRAM WITH ON-CHIP ERROR CORRECTION

被引：12

作者：

ZOUTENDYK, JA ^{[1
]}

SCHWARTZ, HR ^{[1
]}

WATSON, RK ^{[1
]}

HASNAIN, Z ^{[1
]}

NEVILL, LR ^{[1
]}

机构：

[1] MICRON TECHNOL INC,BOISE,ID 83706

来源：

关键词：

D O I：

10.1109/TNS.1987.4337471

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：1310 / 1315

页数：6

共 6 条

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