ELECTRON-ENERGY LOSS SPECTROSCOPY - DETECTABLE LIMITS FOR ELEMENTAL ANALYSIS

被引：34

作者：

JOY, DC

MAHER, DM

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1016/0304-3991(80)90037-6

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：333 / 342

页数：10

共 10 条

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