ELECTRON PROBE METHODS OF X-RAY MICROANALYSIS

被引：21

作者：

DUNCUMB, P

机构：

来源：

BRITISH JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1960年 / 11卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1088/0508-3443/11/5/301

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

页码：169 / 176

页数：8

共 52 条

[1] AGRELL SO, 1959, P S XRAY MICROSCOPY
[2] AUSTIN AE, 1959, P S XRAY MICROSCOPY
[3] SIMPLE ELECTRONIC SCANNING SYSTEM FOR THE X-RAY MICROANALYSER
BERNARD, A
BRYSONHAYNES, D
MULVEY, T
[J]. JOURNAL OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1959, 36 (10): : 438 - 444
[4] ELECTRON PROBE X-RAY MICROANALYZER
BIRKS, LS
BROOKS, EJ
[J]. REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 1957, 28 (09) : 709 - 712
[5] BOROVSKII IB, 1953, PROBLEMY METALLURGII, P135
[6] BOROVSKII IB, 1959, P S XRAY MICROSCOPY
[7] BOROVSKIY IB, 1957, ZAVODSK LAB, V10, P1234
[8] BUSCHMANN EC, 1957, 57GL201 GEN EL CO LA
[9] SUR LES BASES PHYSIQUES DE LANALYSE PONCTUELLE PAR SPECTROGRAPHIE-X
CASTAING, R
DESCAMPS, J
[J]. JOURNAL DE PHYSIQUE ET LE RADIUM, 1955, 16 (04): : 304 - 317
[10] CASTAING R, 1956, LABORATOIRES, V17, P7