EFFECT OF THE MICROSCOPIC ELECTRONIC STATES OF THE TIP ON THE SCANNING TUNNELING MICROSCOPY IMAGE

被引:5
作者
OHNISHI, S [1 ]
TSUKADA, M [1 ]
机构
[1] UNIV TOKYO,FAC SCI,DEPT PHYS,BUNKYO KU,TOKYO 113,JAPAN
来源
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS | 1990年 / 8卷 / 01期
关键词
D O I
10.1116/1.577058
中图分类号
TB3 [工程材料学];
学科分类号
0805 ; 080502 ;
摘要
[No abstract available]
引用
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页码:174 / 176
页数:3
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