RESOLUTION OF LATTICE PLANES AND LATTTICE DEFECTS IN SEMICONDUCTORS INCLUDING OBSERVATIONS ON BOUNDARIES

被引:24
作者
PHILLIPS, VA
HUGO, JA
机构
来源
ACTA METALLURGICA | 1970年 / 18卷 / 01期
关键词
D O I
10.1016/0001-6160(70)90076-3
中图分类号
TF [冶金工业];
学科分类号
0806 ;
摘要
引用
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页码:123 / &
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共 21 条
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TUFTS CF, 1967, 25 P ANN M EL MICR S, P322