MOS CHARACTERIZATION OF LOW LEAKAGE NATIVE OXIDES ON ALGAAS

被引：6

作者：

NICOLLIAN, EH

SCHWARTZ, B

KOSZI, LA

SCHUMAKER, NE

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1149/1.2131605

中图分类号：

O646 [电化学、电解、磁化学];

学科分类号：

081704 ;

摘要：

引用

页码：989 / 991

页数：3

共 5 条

[1]

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NICOLLIAN, EH ;

SCHWARTZ, B ;

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