A FINE-LINE NMOS IC FOR RASTER-SCAN CONTROL OF A 500-MHZ ELECTRON-BEAM DEFLECTION SYSTEM

被引:4
作者
BAYRUNS, RJ
SUCIU, PI
WITTWER, NC
FRASER, DL
FULS, EN
KUSHNER, RA
ASHLEY, FR
GERE, EA
机构
关键词
D O I
10.1109/T-ED.1982.20771
中图分类号
TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
0808 ; 0809 ;
摘要
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页码:737 / 744
页数:8
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