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- [11] ELECTRONIC-STRUCTURE OF THE SI(111)2X1 SURFACE BY SCANNING-TUNNELING MICROSCOPY[J]. PHYSICAL REVIEW LETTERS, 1986, 57 (20) : 2579 - 2582STROSCIO, JAFEENSTRA, RMFEIN, AP
SCANNING TUNNELING MICROSCOPE FOR LOW-TEMPERATURE, HIGH MAGNETIC-FIELD, AND SPATIALLY RESOLVED SPECTROSCOPY
被引：61
作者：
FEIN, AP
KIRTLEY, JR
FEENSTRA, RM
机构：
关键词：
D O I：
10.1063/1.1139524
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
引用
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页码：1806 / 1810
页数：5
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