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NPN AND PNP GALNP/GAAS HETEROJUNCTION BIPOLAR-TRANSISTORS GROWN BY MOCVD
被引:20
作者
:
KAWAI, H
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KAWAI, H
KOBAYASHI, T
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KOBAYASHI, T
NAKAMURA, F
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NAKAMURA, F
TAIRA, K
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TAIRA, K
机构
:
来源
:
ELECTRONICS LETTERS
|
1989年
/ 25卷
/ 09期
关键词
:
D O I
:
10.1049/el:19890414
中图分类号
:
TM [电工技术];
TN [电子技术、通信技术];
学科分类号
:
0808 ;
0809 ;
摘要
:
引用
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页码:609 / 610
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BABIC, DI
.
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS,
1987,
61
(02)
:643
-649
[2]
TAIRA K, 1988, IEEE T ELECTRON DEV, V34, P2040
[3]
INTERFACE PROPERTIES FOR GAAS/INGAALP HETEROJUNCTIONS BY THE CAPACITANCE-VOLTAGE PROFILING TECHNIQUE
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APPLIED PHYSICS LETTERS,
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[1]
DETERMINATION OF VALENCE AND CONDUCTION-BAND DISCONTINUITIES AT THE (GA,IN) P/GAAS HETEROJUNCTION BY C-V PROFILING
[J].
RAO, MA
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BABIC, DI
.
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TAIRA K, 1988, IEEE T ELECTRON DEV, V34, P2040
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INTERFACE PROPERTIES FOR GAAS/INGAALP HETEROJUNCTIONS BY THE CAPACITANCE-VOLTAGE PROFILING TECHNIQUE
[J].
WATANABE, MO
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WATANABE, MO
;
OHBA, Y
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OHBA, Y
.
APPLIED PHYSICS LETTERS,
1987,
50
(14)
:906
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