SENSITIVITY OF EXTERNAL BEAM PIXE ELEMENTAL ANALYSIS METHOD

被引：17

作者：

KATSANOS, A

HADJIANTONIOU, A

机构：

来源：

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS | 1978年 / 149卷 / 1-3期

关键词：

D O I：

10.1016/0029-554X(78)90910-2

中图分类号：

TH7 [仪器、仪表];

学科分类号：

0804 ; 080401 ; 081102 ;

摘要：

引用

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页码：469 / 473

页数：5

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共 1 条

[1] EXTERNAL BEAM TECHNIQUE FOR PROTON-INDUCED X-RAY-EMISSION ANALYSIS [J].

KATSANOS, A ;

XENOULIS, A ;

HADJIANTONIOU, A ;

FINK, RW .

NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS, 1976, 137 (01) :119-124