PHOTO-FET METHOD - HIGH-RESOLUTION DEEP-LEVEL MEASUREMENT TECHNIQUE USING A MESFET STRUCTURE

被引：13

作者：

TEGUDE, FJ

HEIME, K

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1049/el:19800019

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

页码：22 / 23

页数：2

共 5 条

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