共 11 条
[11]
Will G., 1990, ADV XRAY ANAL
NEUTRON-DIFFRACTION TEXTURE ANALYSIS OF MULTIPHASE AND LOW-SYMMETRY MATERIALS USING THE POSITION-SENSITIVE DETECTOR JULIOS AND PEAK DECONVOLUTION METHODS
被引：7
作者：
SCHAFER, W
MERZ, P
JANSEN, E
WILL, G
机构：
来源：
TEXTURES AND MICROSTRUCTURES
|
1991年
/
14卷
关键词：
D O I：
10.1155/TSM.14-18.65
中图分类号：
O7 [晶体学];
学科分类号：
0702 ;
070205 ;
0703 ;
080501 ;
摘要：
引用
收藏
页码：65 / 71
页数：7
相关论文