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CALIBRATION AND USE OF AN ELECTRON MICROSCOPE FOR PRECISION MICROMEASUREMENTS IN THIN FILM MATERIALS
被引:15
作者
:
MURR, LE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
MURR, LE
机构
:
来源
:
PHYSICA STATUS SOLIDI
|
1967年
/ 19卷
/ 01期
关键词
:
D O I
:
10.1002/pssb.19670190102
中图分类号
:
O469 [凝聚态物理学];
学科分类号
:
070205 ;
摘要
:
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