共 22 条
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- [22] AN ELECTRON SPECTROMETER FOR USE WITH TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE[J]. JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS, 1969, 2 (12) : 1757 - &WITTRY, DB
DESIGN CONSIDERATIONS AND PERFORMANCE OF AN ANALYTICAL STEM
被引：34
作者：
CRAVEN, AJ
BUGGY, TW
机构：
关键词：
D O I：
10.1016/0304-3991(81)90020-6
中图分类号：
TH742 [显微镜];
学科分类号：
摘要：
引用
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