EFFECT OF SPOT SIZE ON DETERMINATION OF DIFFUSION LENGTH OF MINORITY-CARRIERS IN P-N-JUNCTIONS USING SCANNED LIGHT-BEAM OR ELECTRON-BEAM TECHNIQUES

被引：6

作者：

LENGYEL, G ^{[1
]}

机构：

[1] UNIV RHODE ISLAND,DEPT ELECT ENGN,KINGSTON,RI 02881

来源：

SOLID-STATE ELECTRONICS | 1974年 / 17卷 / 05期

关键词：

D O I：

10.1016/0038-1101(74)90085-9

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：510 / 512

页数：3

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共 3 条

[1] UV MICROPROBE TECHNIQUE FOR MEASUREMENT OF MINORITY-CARRIER DIFFUSIOM LENGTH IN GAP P-N JUNCTION MATERIAL [J].

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