SHALLOW IMPURITY TRAPS AND ELECTRON TRANSFER DYNAMICS IN N-TYPE SILICON AT LIQUID HELIUM TEMPERATURES

被引：29

作者：

HONIG, A

LEVITT, R

机构：

来源：

关键词：

D O I：

10.1103/PhysRevLett.5.93

中图分类号：

O4 [物理学];

学科分类号：

0702 ;

摘要：

引用

页码：93 / 96

页数：4

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共 4 条

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