ANGULAR-DISTRIBUTION MEASUREMENTS OF ELECTRONS EMITTED FROM THIN-FILM AU-SIOX-AU DIODE AND TRIODE STRUCTURES

被引：11

作者：

GOULD, RD ^{[1
]}

HOGARTH, CA ^{[1
]}

机构：

[1] BRUNEL UNIV,DEPT PHYS,UXBRIDGE UB8 3PH,MIDDLESEX,ENGLAND

来源：

PHYSICA STATUS SOLIDI A-APPLIED RESEARCH | 1977年 / 41卷 / 02期

关键词：

D O I：

10.1002/pssa.2210410212

中图分类号：

T [工业技术];

学科分类号：

08 ;

摘要：

引用

页码：439 / 442

页数：4

共 9 条

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