LINESHAPE MEASUREMENT OF SEMICONDUCTOR-LASERS BELOW THRESHOLD

被引：11

作者：

KIKUCHI, K

机构：

来源：

IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS | 1988年 / 24卷 / 09期

关键词：

D O I：

10.1109/3.7119

中图分类号：

TM [电工技术]; TN [电子技术、通信技术];

学科分类号：

0808 ; 0809 ;

摘要：

引用

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页码：1814 / 1819

页数：6

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共 11 条

[11]

YARIV A, 1975, QUANTUM ELECTRONICS