THE PARAMETERLESS CORRECTION METHOD IN X-RAY-MICROANALYSIS

被引：121

作者：

VANCAPPELLEN, E

机构：

来源：

MICROSCOPY MICROANALYSIS MICROSTRUCTURES | 1990年 / 1卷 / 01期

关键词：

D O I：

10.1051/mmm:01990001010100

中图分类号：

TH742 [显微镜];

学科分类号：

摘要：

引用

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页数：22

共 17 条

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