CORRECTION

被引：12

作者：

ISHII, N

机构：

来源：

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS | 1981年 / 20卷 / 12期

关键词：

D O I：

10.1143/JJAP.20.L920

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

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共 1 条

[1] THE G-VALUES OF DEFECTS IN AMORPHOUS C, SI AND GE [J].

ISHII, N ;

KUMEDA, M ;

SHIMIZU, T .

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, 1981, 20 (09) :L673-L676