ION MICROPROBE ANALYZERS - HISTORY AND OUTLOOK

被引：39

作者：

LIEBL, H ^{[1
]}

机构：

[1] EURATOM ASSOC, MAX PLANCK INST PLASMAPHYS, 8046 GARCHING, WEST GERMANY

来源：

关键词：

D O I：

10.1021/ac60337a025

中图分类号：

O65 [分析化学];

学科分类号：

070302 ; 081704 ;

摘要：

引用

页码：A22 / A30

页数：9

共 57 条

[1]

ARDENNE MV, 1956, TAB ELEKTRONENPHYSIK, V1

[2]

ARDENNES MV, 1939, Z TECH PHYS, V20, P344

[3]

BANNER AE, 1972, AEI NEW PRODUCT INF

[4]

BENNINGHOVEN A, 1963, Z NATURFORSCH PT A, VA 18, P1008

BENOHR, HC ;

SEILER, H .

[6]

BERNARD R, 1958, CR HEBD ACAD SCI, V246, P2597

[7]

BESKE HE, 1962, Z ANGEW PHYS, V14, P30

[8] SECONDARY POSITIVE ION EMISSION FROM METAL SURFACES [J].

BRADLEY, RC .

[9]

CASTAING R, 1960, CR HEBD ACAD SCI, V251, P1010

[10]

Castaing R., 1951, Ph. D. Dissertation,