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ZUR RONTGENOGRAPHISCHEN BESTIMMUNG DES TYPS EINZELNER VERSETZUNGEN IN EINKRISTALLEN
[J].
ZEITSCHRIFT FUR PHYSIK,
1958, 153 (03)
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[2]
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[5]
METHOD FOR THE DETECTION OF DISLOCATIONS IN SILICON BY X-RAY EXTINCTION CONTRAST
[J].
PHYSICAL REVIEW,
1958, 110 (06)
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