MEASUREMENT AND ANALYSIS OF CURRENT TRANSIENTS IN WELL-CHARACTERIZED A-SI-H

被引：6

作者：

THOMPSON, MJ ^{[1
]}

JOHNSON, NM ^{[1
]}

STREET, RA ^{[1
]}

机构：

[1] XEROX CORP,PALO ALTO RES CTR,PALO ALTO,CA 94304

来源：

JOURNAL DE PHYSIQUE | 1981年 / 42卷 / NC4期

关键词：

D O I：

10.1051/jphyscol:19814135

中图分类号：

学科分类号：

摘要：

引用

页码：617 / 620

页数：4

共 7 条

COHEN, JD ;

LANG, DV ;

HARBISON, JP .

CRANDALL, RS .

[3]

JOHNSON NM, AIP C P

PFISTER, G ;

SCHER, H .

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WEI, LS .

[6]

STREET RA, 1978, PHYS REV B, V18, P1800

[7]

THOMPSON MJ, 1981, APPL PHYS LETT