共 3 条
- [1] BRUTON LT, 1970, IEEE T CIRCUIT THEOR, VCT17, P541
- [2] ITOH H, 1969, HEWLETT PACKARD J, P1
- [3] MOSTS AT CRYOGENIC TEMPERATURES[J]. SOLID-STATE ELECTRONICS, 1968, 11 (11) : 1079 - &ROGERS, CG
MEASUREMENT OF LOW-FREQUENCY NOISE FROM 30 TO 300 K
被引：1
作者：
HASLETT, JW
KENDALL, EJM
机构：
来源：
JOURNAL OF PHYSICS E-SCIENTIFIC INSTRUMENTS
|
1972年
/
5卷
/
12期
关键词：
D O I：
10.1088/0022-3735/5/12/005
中图分类号：
TH7 [仪器、仪表];
学科分类号：
0804 ;
080401 ;
081102 ;
摘要：
引用
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页码：1149 / &
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