NEW METHOD OF MICROANALYSIS OF ELECTRONIC COMPONENTS

被引：5

作者：

BENIERE, F ^{[1
]}

机构：

[1] IUT,PHYS MAT LAB,F-22302 LANNION,FRANCE

来源：

REVUE DE PHYSIQUE APPLIQUEE | 1977年 / 12卷 / 11期

关键词：

D O I：

10.1051/rphysap:0197700120110180500

中图分类号：

O59 [应用物理学];

学科分类号：

摘要：

引用

收藏

页码：1805 / 1809

页数：5

相关论文

共 4 条

[1] ALBERT P, 1964, ANALYSE RADIOACTIVAT
[2] BENIERE F, TO BE PUBLISHED
[3] SELF-DIFFUSION OF SODIUM IN SODIUM CHLORIDE AND SODIUM BROMIDE
MAPOTHER, D
CROOKS, HN
MAURER, R
[J]. JOURNAL OF CHEMICAL PHYSICS, 1950, 18 (09) : 1231 - 1236
[4] DETERMINATION OF SODIUM IN ULTRAPURE SILICON AND SILICON DIOXIDE FILMS BY ACTIVATION ANALYSIS
OSBORNE, JF
LARRABEE, GB
HARRAP, V
[J]. ANALYTICAL CHEMISTRY, 1967, 39 (10) : 1144 - &