用于无接触地测量或者检查体表面的光学设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980148670.5

申请日：

2009-12-02

公开(公告)号：

CN102239384B

公开(公告)日：

2011-11-09

发明(设计)人：

C.格拉塞纳普

申请人：

申请人地址：

德国奥伯科亨

IPC主分类号：

G01B1112

IPC分类号：

G01B1124 G01B1130

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

胡莉莉;李家麟

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101158510942 IPC(主分类):G01B 11/12 专利申请号:2009801486705 申请日:20091202
2011-11-09	公开	公开
2022-11-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/12 申请日:20091202 授权公告日:20140305 终止日期:20211202
2013-11-06	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101670251026 IPC(主分类):G01B 11/12 专利申请号:2009801486705 变更事项:申请人变更前权利人:卡尔蔡司股份公司变更后权利人:卡尔蔡司工业测量技术有限公司变更事项:地址变更前权利人:德国上科亨变更后权利人:德国奥伯科亨登记生效日:20131015
2014-03-05	授权	授权

共 41 条

[1]

无接触地测量光源距离的光学设备 [P].

X·莱韦吉 ;

S·布库尔 .

中国专利 :CN1230692C ,2000-06-21

[2]

用于检查光学设备的装置 [P].

A·J·迪斯彭扎 ;

M·F·维曼 ;

K·H·吉尔斯 ;

J·埃贝尔 .

中国专利 :CN101793595B ,2010-08-04

[3]

用于测量物体相对于表面的运动速度的光学设备 [P].

W·富尔科 ;

V·卡坦 ;

B·吉亚马 .

中国专利 :CN101310189A ,2008-11-19

[4]

用于光学设备和预制表面的编码图案 [P].

C·拉扎斯 ;

G·拉森 .

中国专利 :CN1691052A ,2005-11-02

[5]

光学设备、用于测量光学元件的光学表面的实际倾斜的方法和光刻系统 [P].

H·兹维克 ;

T·哈特 ;

M·希伦布兰德 ;

S·里克特 ;

R·阿梅林 ;

F·哈克 .

德国专利 :CN118946850A ,2024-11-12

[6]

用于检查光学设备的方法和系统 [P].

A·J·迪斯彭扎 ;

M·F·维曼 ;

K·H·吉尔斯 ;

J·埃贝尔 .

中国专利 :CN1896708B ,2007-01-17

[7]

用于检查光学设备的方法和系统 [P].

A·J·迪斯彭扎 ;

M·F·维曼 ;

K·H·吉尔斯 ;

J·埃贝尔 .

中国专利 :CN1518662A ,2004-08-04

[8]

用于测量用户心率的光学设备 [P].

C.N.普雷苏拉 .

中国专利 :CN105939656A ,2016-09-14

[9]

用于光学检查湿润表面的微电子传感器件 [P].

C·A·弗舒伦 ;

A·H·J·英明克 .

中国专利 :CN101688835B ,2010-03-31

[10]

用于物体表面的3D测量的共焦测量设备 [P].

K·普拉斯 ;

M·莱 .

德国专利 :CN114945800B ,2025-10-10

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