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光学设备、用于测量光学元件的光学表面的实际倾斜的方法和光刻系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380030164.6
申请日
:
2023-03-22
公开(公告)号
:
CN118946850A
公开(公告)日
:
2024-11-12
发明(设计)人
:
H·兹维克
T·哈特
M·希伦布兰德
S·里克特
R·阿梅林
F·哈克
申请人
:
卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请人地址
:
德国上科亨
IPC主分类号
:
G03F7/00
IPC分类号
:
G02B26/08
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
王蕊瑞
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-11-12
公开
公开
2025-04-15
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G03F 7/00申请日:20230322
共 50 条
[1]
光学元件和光学设备
[P].
平田浩二
论文数:
0
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0
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0
平田浩二
;
峰邑浩行
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峰邑浩行
;
安斋由美子
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安斋由美子
;
西田哲也
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西田哲也
;
山本治朗
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山本治朗
;
小藤直行
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小藤直行
;
池田英博
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池田英博
;
木村展之
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木村展之
.
中国专利
:CN104380154A
,2015-02-25
[2]
光学元件和光学设备
[P].
越智法彦
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越智法彦
;
石仓淳理
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石仓淳理
;
山本修平
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0
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山本修平
.
中国专利
:CN108931828A
,2018-12-04
[3]
光学设备和使用所述光学设备的光刻设备
[P].
乔·特兰乔
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乔·特兰乔
;
威廉·皮尔斯·查宾
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威廉·皮尔斯·查宾
;
瑞恩·理查德·韦斯特弗
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瑞恩·理查德·韦斯特弗
;
杰拉德·W·麦克杜姆
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杰拉德·W·麦克杜姆
;
爱德华·霍顿
论文数:
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爱德华·霍顿
.
中国专利
:CN115335774A
,2022-11-11
[4]
光学设备中的光学元件的温度测量
[P].
K·M·W·J·波斯
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
K·M·W·J·波斯
;
约斯特·安德烈·克鲁格斯特
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
约斯特·安德烈·克鲁格斯特
;
A·阿南德
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机构:
ASML荷兰有限公司
ASML荷兰有限公司
A·阿南德
.
:CN117377912A
,2024-01-09
[5]
光学系统、光学设备和用于布置衍射光学元件的方法
[P].
藤本诚
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0
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藤本诚
.
中国专利
:CN102590914A
,2012-07-18
[6]
光学元件单元和光学设备
[P].
山崎敏宣
论文数:
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山崎敏宣
.
中国专利
:CN110873994A
,2020-03-10
[7]
光学玻璃、光学元件和光学设备
[P].
铃木健介
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0
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0
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机构:
株式会社小原
株式会社小原
铃木健介
.
日本专利
:CN117510064A
,2024-02-06
[8]
光学元件制造方法、光学元件、光学设备和图像捕获设备
[P].
田中博幸
论文数:
0
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田中博幸
;
宇久田秀雄
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宇久田秀雄
;
米谷公一
论文数:
0
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0
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米谷公一
.
中国专利
:CN113880461A
,2022-01-04
[9]
衍射光学元件及包含相同衍射光学元件的光学设备
[P].
杜春雷
论文数:
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杜春雷
;
夏良平
论文数:
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0
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夏良平
.
中国专利
:CN109116455A
,2019-01-01
[10]
光学元件制造方法、光学元件、光学设备和图像捕获设备
[P].
田中博幸
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0
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机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
田中博幸
;
宇久田秀雄
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0
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机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
宇久田秀雄
;
米谷公一
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0
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0
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机构:
佳能株式会社
佳能株式会社
米谷公一
.
日本专利
:CN113880461B
,2024-01-12
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