光学设备、用于测量光学元件的光学表面的实际倾斜的方法和光刻系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202380030164.6
申请日
2023-03-22
公开(公告)号
CN118946850A
公开(公告)日
2024-11-12
发明(设计)人
H·兹维克 T·哈特 M·希伦布兰德 S·里克特 R·阿梅林 F·哈克
申请人
卡尔蔡司SMT有限责任公司
申请人地址
德国上科亨
IPC主分类号
G03F7/00
IPC分类号
G02B26/08
代理机构
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
王蕊瑞
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
光学元件和光学设备 [P]. 
平田浩二 ;
峰邑浩行 ;
安斋由美子 ;
西田哲也 ;
山本治朗 ;
小藤直行 ;
池田英博 ;
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[2]
光学元件和光学设备 [P]. 
越智法彦 ;
石仓淳理 ;
山本修平 .
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[3]
光学设备和使用所述光学设备的光刻设备 [P]. 
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威廉·皮尔斯·查宾 ;
瑞恩·理查德·韦斯特弗 ;
杰拉德·W·麦克杜姆 ;
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[4]
光学设备中的光学元件的温度测量 [P]. 
K·M·W·J·波斯 ;
约斯特·安德烈·克鲁格斯特 ;
A·阿南德 .
:CN117377912A ,2024-01-09
[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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杜春雷 ;
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[10]
光学元件制造方法、光学元件、光学设备和图像捕获设备 [P]. 
田中博幸 ;
宇久田秀雄 ;
米谷公一 .
日本专利 :CN113880461B ,2024-01-12