一种老化测试架

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专利类型
实用新型
申请号
CN201020203005.1
申请日
2010-05-21
公开(公告)号
CN201707355U
公开(公告)日
2011-01-12
发明(设计)人
刘畅 程华辉
申请人
申请人地址
516006 广东省惠州市仲恺高新技术产业开发区珠田路1号
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R3100
代理机构
广州粤高专利商标代理有限公司 44102
代理人
任海燕
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
一种老化测试板及其老化测试架 [P]. 
郑伟 ;
陈宁宾 .
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[2]
一种老化测试架 [P]. 
叶彬 ;
黄小林 ;
严平 ;
谢鼎 ;
吴锡标 .
中国专利 :CN210109157U ,2020-02-21
[3]
老化测试架 [P]. 
黄在先 .
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[4]
一种芯片老化测试架 [P]. 
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[5]
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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[10]
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