老化测试架

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520922347.1

申请日：

2015-11-18

公开(公告)号：

CN205176213U

公开(公告)日：

2016-04-20

发明(设计)人：

黄在先

申请人：

申请人地址：

201411 上海市奉贤区奉城镇大叶公路7888-7932号1幢189室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海三和万国知识产权代理事务所(普通合伙) 31230

代理人：

陈伟勇

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-05	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20151118 授权公告日:20160420 终止日期:20181118
2016-04-20	授权	授权

共 50 条

[1]

电源老化测试架 [P].

涂强 ;

杨海 .

中国专利 :CN216351135U ,2022-04-19

[2]

电源老化测试架 [P].

陈永俊 .

中国专利 :CN221465706U ,2024-08-02

[3]

电池安全老化测试架 [P].

周海燕 .

中国专利 :CN217213072U ,2022-08-16

[4]

无极灯老化测试架 [P].

庄彦军 ;

倪荣国 ;

侯勇敢 .

中国专利 :CN202502232U ,2012-10-24

[5]

一种老化测试板及其老化测试架 [P].

郑伟 ;

陈宁宾 .

中国专利 :CN213780233U ,2021-07-23

[6]

测试架（单边老化测试） [P].

孔凡平 ;

杨京 ;

杨松青 .

中国专利 :CN305654066S ,2020-03-24

[7]

测试架（双边老化测试） [P].

孔凡平 ;

杨京 ;

杨松青 .

中国专利 :CN305654065S ,2020-03-24

[8]

一种老化测试架 [P].

叶彬 ;

黄小林 ;

严平 ;

谢鼎 ;

吴锡标 .

中国专利 :CN210109157U ,2020-02-21

[9]

一种老化测试架 [P].

刘畅 ;

程华辉 .

中国专利 :CN201707355U ,2011-01-12

[10]

电源老化测试架 [P].

郭伟光 .

中国专利 :CN223692411U ,2025-12-19

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