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电源老化测试架
被引:0
申请号
:
CN202121656652.2
申请日
:
2021-07-20
公开(公告)号
:
CN216351135U
公开(公告)日
:
2022-04-19
发明(设计)人
:
涂强
杨海
申请人
:
申请人地址
:
519060 广东省珠海市香洲区南屏科技工业园虹达路二号厂房B五楼、六楼A区
IPC主分类号
:
G01R3140
IPC分类号
:
G01R102
G01R104
代理机构
:
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
:
陈慧华
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-19
授权
授权
共 50 条
[1]
电源适配器老化测试盒
[P].
涂强
论文数:
0
引用数:
0
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0
涂强
;
杨海
论文数:
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0
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杨海
.
中国专利
:CN215910569U
,2022-02-25
[2]
电源老化测试架
[P].
陈永俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
东莞市京亚电子电器科技有限公司
东莞市京亚电子电器科技有限公司
陈永俊
.
中国专利
:CN221465706U
,2024-08-02
[3]
电源老化测试架
[P].
郭伟光
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
广东高芯技术有限公司
广东高芯技术有限公司
郭伟光
.
中国专利
:CN223692411U
,2025-12-19
[4]
老化测试电源信号反馈装置
[P].
喻剑
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喻剑
;
杨靖
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杨靖
;
刘从东
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刘从东
.
中国专利
:CN216526081U
,2022-05-13
[5]
老化测试架
[P].
黄在先
论文数:
0
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0
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0
黄在先
.
中国专利
:CN205176213U
,2016-04-20
[6]
一种电源老化测试架
[P].
刘军
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刘军
;
李令涛
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李令涛
;
田启荣
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田启荣
.
中国专利
:CN207882310U
,2018-09-18
[7]
一种电源老化测试架
[P].
王锦迪
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王锦迪
.
中国专利
:CN214795136U
,2021-11-19
[8]
电源老化测试柜
[P].
王正平
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王正平
.
中国专利
:CN211236172U
,2020-08-11
[9]
LED老化测试架
[P].
孙桂光
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孙桂光
.
中国专利
:CN204719086U
,2015-10-21
[10]
电源老化测试散热结构
[P].
章孝
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章孝
;
严文年
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严文年
;
党代表
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党代表
;
田博雍
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田博雍
.
中国专利
:CN212255624U
,2020-12-29
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