测试架(双边老化测试)

被引:0
专利类型
外观设计
申请号
CN201930405606.7
申请日
2019-07-29
公开(公告)号
CN305654065S
公开(公告)日
2020-03-24
发明(设计)人
孔凡平 杨京 杨松青
申请人
申请人地址
361000 福建省厦门市翔安区内岗中路1号之2
IPC主分类号
1005
IPC分类号
代理机构
厦门律嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 35225
代理人
张辉;李增进
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测试架(单边老化测试) [P]. 
孔凡平 ;
杨京 ;
杨松青 .
中国专利 :CN305654066S ,2020-03-24
[2]
老化测试架 [P]. 
黄在先 .
中国专利 :CN205176213U ,2016-04-20
[3]
老化测试架 [P]. 
孙志耀 ;
潘卫 .
中国专利 :CN306940136S ,2021-11-16
[4]
彩屏老化测试架 [P]. 
周寿康 ;
胡吕鹏 ;
朱庆钟 ;
王丽军 ;
李远科 .
中国专利 :CN112630473A ,2021-04-09
[5]
电源老化测试架 [P]. 
陈永俊 .
中国专利 :CN221465706U ,2024-08-02
[6]
LCD双边测试架 [P]. 
杨灶全 ;
王洪吉 .
中国专利 :CN204666661U ,2015-09-23
[7]
一种老化测试板及其老化测试架 [P]. 
郑伟 ;
陈宁宾 .
中国专利 :CN213780233U ,2021-07-23
[8]
电机老化测试架装置 [P]. 
陈泽华 ;
崔林 .
中国专利 :CN309299140S ,2025-05-20
[9]
电池安全老化测试架 [P]. 
周海燕 .
中国专利 :CN217213072U ,2022-08-16
[10]
液晶模组老化测试架 [P]. 
丁小刚 .
中国专利 :CN304819554S ,2018-09-18