学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
测试架(双边老化测试)
被引:0
专利类型
:
外观设计
申请号
:
CN201930405606.7
申请日
:
2019-07-29
公开(公告)号
:
CN305654065S
公开(公告)日
:
2020-03-24
发明(设计)人
:
孔凡平
杨京
杨松青
申请人
:
申请人地址
:
361000 福建省厦门市翔安区内岗中路1号之2
IPC主分类号
:
1005
IPC分类号
:
代理机构
:
厦门律嘉知识产权代理事务所(普通合伙) 35225
代理人
:
张辉;李增进
法律状态
:
授权
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-03-24
授权
授权
共 50 条
[1]
测试架(单边老化测试)
[P].
孔凡平
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孔凡平
;
杨京
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨京
;
杨松青
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨松青
.
中国专利
:CN305654066S
,2020-03-24
[2]
老化测试架
[P].
黄在先
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄在先
.
中国专利
:CN205176213U
,2016-04-20
[3]
老化测试架
[P].
孙志耀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙志耀
;
潘卫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
潘卫
.
中国专利
:CN306940136S
,2021-11-16
[4]
彩屏老化测试架
[P].
周寿康
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周寿康
;
胡吕鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡吕鹏
;
朱庆钟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱庆钟
;
王丽军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王丽军
;
李远科
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李远科
.
中国专利
:CN112630473A
,2021-04-09
[5]
电源老化测试架
[P].
陈永俊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
东莞市京亚电子电器科技有限公司
东莞市京亚电子电器科技有限公司
陈永俊
.
中国专利
:CN221465706U
,2024-08-02
[6]
LCD双边测试架
[P].
杨灶全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨灶全
;
王洪吉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王洪吉
.
中国专利
:CN204666661U
,2015-09-23
[7]
一种老化测试板及其老化测试架
[P].
郑伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郑伟
;
陈宁宾
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈宁宾
.
中国专利
:CN213780233U
,2021-07-23
[8]
电机老化测试架装置
[P].
陈泽华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州市捷恩泰科技有限公司
苏州市捷恩泰科技有限公司
陈泽华
;
崔林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州市捷恩泰科技有限公司
苏州市捷恩泰科技有限公司
崔林
.
中国专利
:CN309299140S
,2025-05-20
[9]
电池安全老化测试架
[P].
周海燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
周海燕
.
中国专利
:CN217213072U
,2022-08-16
[10]
液晶模组老化测试架
[P].
丁小刚
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
丁小刚
.
中国专利
:CN304819554S
,2018-09-18
←
1
2
3
4
5
→