学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

集成电路的测试系统

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201821252258.0
申请日：
2018-08-03
公开(公告)号：
CN208607321U
公开(公告)日：
2019-03-15
发明(设计)人：
连高城 叶剑文 赵静一
申请人：
申请人地址：
310012 浙江省杭州市西湖区黄姑山路4号
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G05B19042
代理机构：
北京康信知识产权代理有限责任公司 11240
代理人：
赵囡囡;董文倩
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2019-03-15 授权 授权
共 50 条
[1]
集成电路测试系统 [P]. 
叶剑文 .
中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31
[2]
集成电路测试系统 [P]. 
祁俊华 .
中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31
[3]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[4]
分布式集成电路测试系统 [P]. 
叶剑文 .
中国专利 :CN215005735U ,2021-12-03
[5]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[6]
集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统 [P]. 
金浩 ;
边垚垚 .
中国专利 :CN119926810A ,2025-05-06
[7]
集成电路测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN210007709U ,2020-01-31
[8]
集成电路测试系统 [P]. 
祁俊华 .
中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01
[9]
集成电路测试系统 [P]. 
叶剑文 .
中国专利 :CN203909236U ,2014-10-29
[10]
集成电路测试系统 [P]. 
林益民 .
中国专利 :CN1611957A ,2005-05-04
12345