集成电路测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201820241152.4
申请日
2018-02-11
公开(公告)号
CN207798988U
公开(公告)日
2018-08-31
发明(设计)人
祁俊华
申请人
申请人地址
215000 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷29号
IPC主分类号
G01R3102
IPC分类号
G01N2195
代理机构
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256
代理人
王锋
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路测试系统 [P]. 
祁俊华 .
中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01
[2]
集成电路测试系统 [P]. 
叶剑文 .
中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31
[3]
集成电路的测试系统 [P]. 
连高城 ;
叶剑文 ;
赵静一 .
中国专利 :CN208607321U ,2019-03-15
[4]
集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P]. 
张晓磊 .
中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01
[5]
集成电路测试系统 [P]. 
张悦 .
中国专利 :CN210007709U ,2020-01-31
[6]
集成电路测试系统 [P]. 
叶剑文 .
中国专利 :CN203909236U ,2014-10-29
[7]
集成电路测试系统 [P]. 
林益民 .
中国专利 :CN1611957A ,2005-05-04
[8]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法 [P]. 
徐正元 .
中国专利 :CN102854455A ,2013-01-02
[9]
集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统 [P]. 
金浩 ;
边垚垚 .
中国专利 :CN119926810A ,2025-05-06
[10]
集成电路测试系统(IGBT) [P]. 
黄世雄 ;
韩良伟 ;
邱磊 ;
占津晶 .
中国专利 :CN308551945S ,2024-04-02