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集成电路测试系统
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201820241152.4
申请日
:
2018-02-11
公开(公告)号
:
CN207798988U
公开(公告)日
:
2018-08-31
发明(设计)人
:
祁俊华
申请人
:
申请人地址
:
215000 江苏省苏州市苏州工业园区汀兰巷29号
IPC主分类号
:
G01R3102
IPC分类号
:
G01N2195
代理机构
:
南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256
代理人
:
王锋
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-08-31
授权
授权
共 50 条
[1]
集成电路测试系统
[P].
祁俊华
论文数:
0
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0
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0
祁俊华
.
中国专利
:CN108107309A
,2018-06-01
[2]
集成电路测试系统
[P].
叶剑文
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0
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0
叶剑文
.
中国专利
:CN207799022U
,2018-08-31
[3]
集成电路的测试系统
[P].
连高城
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连高城
;
叶剑文
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叶剑文
;
赵静一
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赵静一
.
中国专利
:CN208607321U
,2019-03-15
[4]
集成电路测试方法和集成电路测试系统
[P].
张晓磊
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张晓磊
.
中国专利
:CN114264936A
,2022-04-01
[5]
集成电路测试系统
[P].
张悦
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张悦
.
中国专利
:CN210007709U
,2020-01-31
[6]
集成电路测试系统
[P].
叶剑文
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0
叶剑文
.
中国专利
:CN203909236U
,2014-10-29
[7]
集成电路测试系统
[P].
林益民
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0
林益民
.
中国专利
:CN1611957A
,2005-05-04
[8]
集成电路测试系统及集成电路测试系统的控制方法
[P].
徐正元
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徐正元
.
中国专利
:CN102854455A
,2013-01-02
[9]
集成电路测试系统的点检方法以及集成电路测试系统
[P].
金浩
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机构:
杭州领策科技有限公司
杭州领策科技有限公司
金浩
;
边垚垚
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机构:
杭州领策科技有限公司
杭州领策科技有限公司
边垚垚
.
中国专利
:CN119926810A
,2025-05-06
[10]
集成电路测试系统(IGBT)
[P].
黄世雄
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机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
黄世雄
;
韩良伟
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机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
韩良伟
;
邱磊
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机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
邱磊
;
占津晶
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机构:
悦芯科技股份有限公司
悦芯科技股份有限公司
占津晶
.
中国专利
:CN308551945S
,2024-04-02
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