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粒子测定装置、校正方法以及测定装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201980065132.3
申请日：
2019-09-30
公开(公告)号：
CN112840199A
公开(公告)日：
2021-05-25
发明(设计)人：
加藤晴久 松浦有祐 中村文子 近藤郁 田渕拓哉 冨田宽 林秀和
申请人：
申请人地址：
日本东京都
IPC主分类号：
G01N1502
IPC分类号：
G01N1500
代理机构：
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人：
李成必;李雪春
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-05-25 公开 公开
共 50 条
[1]
粒子测定装置、校正方法 [P]. 
加藤晴久 ;
松浦有祐 ;
中村文子 ;
近藤郁 ;
田渕拓哉 ;
冨田宽 ;
林秀和 .
日本专利 :CN112840199B ,2024-06-14
[2]
粒子测定装置以及粒子测定方法 [P]. 
伊藤信明 .
中国专利 :CN102834689B ,2012-12-19
[3]
形状测定装置的测定误差的校正方法以及形状测定装置 [P]. 
中川英幸 ;
石川修弘 .
中国专利 :CN105277148B ,2016-01-27
[4]
光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置 [P]. 
中岛一八 ;
野口宗裕 .
中国专利 :CN112798105A ,2021-05-14
[5]
光学测定装置的线性校正方法、光学测定方法以及光学测定装置 [P]. 
中岛一八 ;
野口宗裕 .
日本专利 :CN112798105B ,2025-03-21
[6]
测定装置、校正方法和测定装置用程序 [P]. 
樽井克泰 ;
江原克信 .
中国专利 :CN110050186A ,2019-07-23
[7]
浓度测定装置的测定温度的校正方法以及浓度测定装置 [P]. 
伊藤忍 ;
相乐真 .
日本专利 :CN119948331A ,2025-05-06
[8]
浓度测定装置的测定温度的校正方法以及浓度测定装置 [P]. 
伊藤忍 ;
相乐真 .
日本专利 :CN119948331B ,2025-10-14
[9]
测定方法以及测定装置 [P]. 
西田信幸 .
中国专利 :CN104515497A ,2015-04-15
[10]
测定装置以及测定方法 [P]. 
增田浩二 .
日本专利 :CN120558958A ,2025-08-29
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