一种芯片测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322845953.5

申请日：

2023-10-24

公开(公告)号：

CN221124785U

公开(公告)日：

2024-06-11

发明(设计)人：

李关辉李清龙李永华吴庆全

申请人：

合肥哈工宪明科技有限公司

申请人地址：

230000 安徽省合肥市经济技术开发区宿松路3963号智能装备科技园C区1栋五楼

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

安徽青尧知识产权代理事务所(普通合伙) 34226

代理人：

刘静培

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片测试装置 [P].

余永庆 ;

唐章海 ;

王伟 .

中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18

[2]

一种芯片测试装置 [P].

冯国淇 ;

覃宗鹏 .

中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12

[3]

一种芯片测试装置 [P].

何士龙 .

中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08

[4]

一种芯片测试装置 [P].

姜磊 ;

刘敬伟 ;

仝飞 .

中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03

[5]

一种芯片测试装置 [P].

李明 ;

郭晓旭 ;

樊晓华 ;

边海波 .

中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02

[6]

一种芯片测试装置 [P].

张静静 .

中国专利 :CN216485353U ,2022-05-10

[7]

一种芯片测试装置 [P].

王耀 .

中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16

[8]

一种芯片测试装置 [P].

李尚成 ;

高安明 ;

姜伟 .

中国专利 :CN220603638U ,2024-03-15

[9]

一种芯片测试装置 [P].

蒋卫兵 ;

顾培东 .

中国专利 :CN208999534U ,2019-06-18

[10]

一种芯片测试装置 [P].

马云龙 ;

程莹 .

中国专利 :CN217213015U ,2022-08-16

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