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一种芯片测试装置

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202022256838.0
申请日：
2020-10-12
公开(公告)号：
CN213398652U
公开(公告)日：
2021-06-08
发明(设计)人：
何士龙
申请人：
申请人地址：
201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325
IPC主分类号：
G01R104
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
北京品源专利代理有限公司 11332
代理人：
胡彬
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2021-06-08 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[2]
一种芯片测试装置 [P]. 
王耀 .
中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
李关辉 ;
李清龙 ;
李永华 ;
吴庆全 .
中国专利 :CN221124785U ,2024-06-11
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
张静静 .
中国专利 :CN216485353U ,2022-05-10
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
汪胜梅 ;
刘玉 ;
郑新月 .
中国专利 :CN118837724A ,2024-10-25
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
李尚成 ;
高安明 ;
姜伟 .
中国专利 :CN220603638U ,2024-03-15
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
顾培东 ;
张彤 .
中国专利 :CN114879018B ,2025-02-18
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