一种芯片测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411169714.5
申请日
2024-08-25
公开(公告)号
CN118837724A
公开(公告)日
2024-10-25
发明(设计)人
汪胜梅 刘玉 郑新月
申请人
襄城县佰信网络科技有限公司
申请人地址
461000 河南省许昌市襄城县文化路成建万家南门101号
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
B01D46/10 B01D46/76
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[2]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02
[3]
一种芯片测试装置 [P]. 
王耀 .
中国专利 :CN221351662U ,2024-07-16
[4]
一种芯片测试装置 [P]. 
顾培东 ;
张彤 .
中国专利 :CN114879018B ,2025-02-18
[5]
一种芯片测试装置 [P]. 
顾培东 ;
张彤 .
中国专利 :CN114879018A ,2022-08-09
[6]
一种LPDDR芯片测试装置 [P]. 
张亚伟 ;
李婷婷 .
中国专利 :CN223401005U ,2025-09-30
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李关辉 ;
李清龙 ;
李永华 ;
吴庆全 .
中国专利 :CN221124785U ,2024-06-11