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一种芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411169714.5
申请日
:
2024-08-25
公开(公告)号
:
CN118837724A
公开(公告)日
:
2024-10-25
发明(设计)人
:
汪胜梅
刘玉
郑新月
申请人
:
襄城县佰信网络科技有限公司
申请人地址
:
461000 河南省许昌市襄城县文化路成建万家南门101号
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
B01D46/10
B01D46/76
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-10-25
公开
公开
2024-11-12
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240825
2025-07-22
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/28申请公布日:20241025
共 50 条
[1]
一种芯片测试装置
[P].
何士龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
何士龙
.
中国专利
:CN213398652U
,2021-06-08
[2]
一种芯片测试装置
[P].
李明
论文数:
0
引用数:
0
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0
李明
;
郭晓旭
论文数:
0
引用数:
0
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0
郭晓旭
;
樊晓华
论文数:
0
引用数:
0
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0
樊晓华
;
边海波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
边海波
.
中国专利
:CN217360170U
,2022-09-02
[3]
一种芯片测试装置
[P].
王耀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳智游者科技有限公司
深圳智游者科技有限公司
王耀
.
中国专利
:CN221351662U
,2024-07-16
[4]
一种芯片测试装置
[P].
顾培东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海捷策创电子科技有限公司
上海捷策创电子科技有限公司
顾培东
;
张彤
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海捷策创电子科技有限公司
上海捷策创电子科技有限公司
张彤
.
中国专利
:CN114879018B
,2025-02-18
[5]
一种芯片测试装置
[P].
顾培东
论文数:
0
引用数:
0
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0
顾培东
;
张彤
论文数:
0
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0
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0
张彤
.
中国专利
:CN114879018A
,2022-08-09
[6]
一种LPDDR芯片测试装置
[P].
张亚伟
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市战峰科技有限公司
深圳市战峰科技有限公司
张亚伟
;
李婷婷
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市战峰科技有限公司
深圳市战峰科技有限公司
李婷婷
.
中国专利
:CN223401005U
,2025-09-30
[7]
一种芯片测试装置
[P].
余永庆
论文数:
0
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0
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0
余永庆
;
唐章海
论文数:
0
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0
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0
唐章海
;
王伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王伟
.
中国专利
:CN217846551U
,2022-11-18
[8]
一种芯片测试装置
[P].
冯国淇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
北京富光联创科技有限公司
北京富光联创科技有限公司
冯国淇
;
覃宗鹏
论文数:
0
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0
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0
机构:
北京富光联创科技有限公司
北京富光联创科技有限公司
覃宗鹏
.
中国专利
:CN221993589U
,2024-11-12
[9]
一种芯片测试装置
[P].
姜磊
论文数:
0
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0
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0
姜磊
;
刘敬伟
论文数:
0
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0
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0
刘敬伟
;
仝飞
论文数:
0
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0
h-index:
0
仝飞
.
中国专利
:CN209728113U
,2019-12-03
[10]
一种芯片测试装置
[P].
李关辉
论文数:
0
引用数:
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0
机构:
合肥哈工宪明科技有限公司
合肥哈工宪明科技有限公司
李关辉
;
李清龙
论文数:
0
引用数:
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机构:
合肥哈工宪明科技有限公司
合肥哈工宪明科技有限公司
李清龙
;
李永华
论文数:
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机构:
合肥哈工宪明科技有限公司
合肥哈工宪明科技有限公司
李永华
;
吴庆全
论文数:
0
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机构:
合肥哈工宪明科技有限公司
合肥哈工宪明科技有限公司
吴庆全
.
中国专利
:CN221124785U
,2024-06-11
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