一种LPDDR芯片测试装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN202422616489.7
申请日
2024-10-29
公开(公告)号
CN223401005U
公开(公告)日
2025-09-30
发明(设计)人
张亚伟 李婷婷
申请人
深圳市战峰科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区招商街道水湾社区蛇口兴华路南海意库1栋207
IPC主分类号
G01R31/28
IPC分类号
G01R1/04
代理机构
深圳市知高达专利代理有限公司 44869
代理人
赵晨宇
法律状态
授权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
LPDDR芯片测试装置 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN214068354U ,2021-08-27
[2]
一种用于测试LPDDR芯片的测试装置 [P]. 
赖振楠 .
中国专利 :CN217405115U ,2022-09-09
[3]
LPDDR芯片测试装置 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN112509630B ,2025-02-11
[4]
一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P]. 
赵山 ;
黄建军 ;
吴永红 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14
[5]
LPDDR芯片测试装置 [P]. 
孙成思 ;
孙日欣 ;
刘冲 .
中国专利 :CN112509630A ,2021-03-16
[6]
一种用于芯片测试的测试装置 [P]. 
唐仁伟 ;
孙成扬 ;
文根发 .
中国专利 :CN223284337U ,2025-08-29
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03