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一种LPDDR芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202422616489.7
申请日
:
2024-10-29
公开(公告)号
:
CN223401005U
公开(公告)日
:
2025-09-30
发明(设计)人
:
张亚伟
李婷婷
申请人
:
深圳市战峰科技有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区招商街道水湾社区蛇口兴华路南海意库1栋207
IPC主分类号
:
G01R31/28
IPC分类号
:
G01R1/04
代理机构
:
深圳市知高达专利代理有限公司 44869
代理人
:
赵晨宇
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-30
授权
授权
共 50 条
[1]
LPDDR芯片测试装置
[P].
孙成思
论文数:
0
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0
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
刘冲
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刘冲
.
中国专利
:CN214068354U
,2021-08-27
[2]
一种用于测试LPDDR芯片的测试装置
[P].
赖振楠
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0
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0
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0
赖振楠
.
中国专利
:CN217405115U
,2022-09-09
[3]
LPDDR芯片测试装置
[P].
孙成思
论文数:
0
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机构:
深圳佰维存储科技股份有限公司
深圳佰维存储科技股份有限公司
孙成思
;
孙日欣
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机构:
深圳佰维存储科技股份有限公司
深圳佰维存储科技股份有限公司
孙日欣
;
刘冲
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机构:
深圳佰维存储科技股份有限公司
深圳佰维存储科技股份有限公司
刘冲
.
中国专利
:CN112509630B
,2025-02-11
[4]
一种芯片测试装置及芯片测试系统
[P].
赵山
论文数:
0
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0
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
赵山
;
黄建军
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
黄建军
;
吴永红
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
;
陈建丛
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建丛
;
孙钦华
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙钦华
.
中国专利
:CN222353963U
,2025-01-14
[5]
LPDDR芯片测试装置
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
刘冲
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刘冲
.
中国专利
:CN112509630A
,2021-03-16
[6]
一种用于芯片测试的测试装置
[P].
唐仁伟
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
唐仁伟
;
孙成扬
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙成扬
;
文根发
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
文根发
.
中国专利
:CN223284337U
,2025-08-29
[7]
一种芯片测试装置
[P].
余永庆
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余永庆
;
唐章海
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唐章海
;
王伟
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王伟
.
中国专利
:CN217846551U
,2022-11-18
[8]
一种芯片测试装置
[P].
冯国淇
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机构:
北京富光联创科技有限公司
北京富光联创科技有限公司
冯国淇
;
覃宗鹏
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0
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机构:
北京富光联创科技有限公司
北京富光联创科技有限公司
覃宗鹏
.
中国专利
:CN221993589U
,2024-11-12
[9]
一种芯片测试装置
[P].
何士龙
论文数:
0
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0
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何士龙
.
中国专利
:CN213398652U
,2021-06-08
[10]
一种芯片测试装置
[P].
姜磊
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姜磊
;
刘敬伟
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刘敬伟
;
仝飞
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仝飞
.
中国专利
:CN209728113U
,2019-12-03
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