无线射频窄带测试治具、系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202322628273.8

申请日：

2023-09-25

公开(公告)号：

CN221127301U

公开(公告)日：

2024-06-11

发明(设计)人：

孙明

申请人：

银河电力集团股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新南区软件基地1栋A座8、9楼

IPC主分类号：

H04B17/10

IPC分类号：

H04B17/20

代理机构：

深圳市道一专利商标代理事务所(普通合伙) 44942

代理人：

卜科武

法律状态：

授权

国省代码：

山东省青岛市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-06-11	授权	授权

共 50 条

[1]

射频模组测试治具、系统 [P].

邓朝美 ;

张建刚 .

中国专利 :CN223744727U ,2025-12-30

[2]

无线模组射频性能测试治具及测试系统 [P].

刘伟 ;

张坤 .

中国专利 :CN211702045U ,2020-10-16

[3]

耳机射频测试治具 [P].

刘召勇 ;

杜容彬 ;

张海荣 ;

张明涛 ;

刘卫彬 ;

滕录超 ;

西琦 .

中国专利 :CN209402521U ,2019-09-17

[4]

射频测试治具机架 [P].

聂林红 ;

何卫 ;

叶传鸿 ;

蒋龙彪 .

中国专利 :CN204330812U ,2015-05-13

[5]

射频测试屏蔽治具 [P].

庄爱萍 ;

冯利民 .

中国专利 :CN216595238U ,2022-05-24

[6]

高精度射频测试治具 [P].

何卫 ;

叶传鸿 ;

蒋龙彪 .

中国专利 :CN204330813U ,2015-05-13

[7]

LoRaWAN模块射频性能测试治具及其系统 [P].

王世沛 .

中国专利 :CN223402557U ,2025-09-30

[8]

一种射频测试系统的芯片测试治具 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575221U ,2022-01-18

[9]

除静电结构、射频测试治具及射频测试系统 [P].

付强辉 ;

张格平 ;

管泽亚 .

中国专利 :CN118413929A ,2024-07-30

[10]

一种射频测试治具 [P].

鲍建荣 .

中国专利 :CN216144917U ,2022-03-29

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