学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

一种射频测试系统的芯片测试治具

被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202121595639.0
申请日：
2021-07-14
公开(公告)号：
CN215575221U
公开(公告)日：
2022-01-18
发明(设计)人：
黄哲尔 沈义明 韦宗专
申请人：
申请人地址：
201805 上海市嘉定区墨玉南路1060号1307室-1
IPC主分类号：
G01R102
IPC分类号：
G01R3128
代理机构：
上海宏京知识产权代理事务所(普通合伙) 31297
代理人：
邓文武
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2022-01-18 授权 授权
共 50 条
[1]
一种芯片测试治具及芯片测试系统 [P]. 
黄建军 ;
赵山 ;
吴永红 ;
孙成扬 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222353962U ,2025-01-14
[2]
芯片测试治具 [P]. 
何正鸿 ;
陶毅 ;
陈泽 ;
宋祥祎 .
中国专利 :CN220709213U ,2024-04-02
[3]
芯片测试治具和芯片测试系统 [P]. 
郭观水 ;
肖裕权 ;
江建威 .
中国专利 :CN207050762U ,2018-02-27
[4]
耳机射频测试治具 [P]. 
刘召勇 ;
杜容彬 ;
张海荣 ;
张明涛 ;
刘卫彬 ;
滕录超 ;
西琦 .
中国专利 :CN209402521U ,2019-09-17
[5]
射频芯片的测试系统及测试方法 [P]. 
孙梅芳 ;
江明 .
中国专利 :CN114325337A ,2022-04-12
[6]
一种射频测试治具 [P]. 
鲍建荣 .
中国专利 :CN216144917U ,2022-03-29
[7]
一种芯片功能测试治具 [P]. 
董怡兰 .
中国专利 :CN212872767U ,2021-04-02
[8]
一种Vcsel芯片测试治具 [P]. 
刘金杰 ;
廖茂密 .
中国专利 :CN215728322U ,2022-02-01
[9]
一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备 [P]. 
文根发 ;
金鹏 .
中国专利 :CN118980913A ,2024-11-19
[10]
一种芯片测试治具 [P]. 
谢登煌 ;
卢浩 .
中国专利 :CN119511054A ,2025-02-25
12345