一种芯片测试治具及芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420894180.1

申请日：

2024-04-26

公开(公告)号：

CN222353962U

公开(公告)日：

2025-01-14

发明(设计)人：

黄建军赵山吴永红孙成扬孙钦华

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391

代理人：

赵云秀

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-14	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试治具和芯片测试系统 [P].

郭观水 ;

肖裕权 ;

江建威 .

中国专利 :CN207050762U ,2018-02-27

[2]

一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P].

吴永红 ;

黄建军 ;

赵山 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14

[3]

一种滑盖测试治具及芯片测试系统 [P].

赖俊生 ;

王爱华 ;

曹明德 .

中国专利 :CN221351560U ,2024-07-16

[4]

芯片测试治具 [P].

何正鸿 ;

陶毅 ;

陈泽 ;

宋祥祎 .

中国专利 :CN220709213U ,2024-04-02

[5]

一种芯片测试模块及芯片测试系统 [P].

赵仕斌 ;

钟兴和 ;

喻梦婷 .

中国专利 :CN215641645U ,2022-01-25

[6]

一种射频测试系统的芯片测试治具 [P].

黄哲尔 ;

沈义明 ;

韦宗专 .

中国专利 :CN215575221U ,2022-01-18

[7]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[8]

一种芯片上料设备及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

孙成扬 ;

唐仁伟 .

中国专利 :CN222354019U ,2025-01-14

[9]

芯片测试治具 [P].

杨建 ;

刘志维 ;

汪迪 ;

张先俊 .

中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09

[10]

芯片测试治具 [P].

孙圣钦 .

中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22

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