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芯片测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201920314503.4
申请日
:
2019-03-13
公开(公告)号
:
CN209673621U
公开(公告)日
:
2019-11-22
发明(设计)人
:
孙圣钦
申请人
:
申请人地址
:
300000 天津市西青区中北镇西青道与天河路交口东100米南方客栈院内5号厂房
IPC主分类号
:
G01N2101
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-11-22
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试治具
[P].
谢森华
论文数:
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0
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谢森华
.
中国专利
:CN207923960U
,2018-09-28
[2]
芯片测试治具
[P].
杨建
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
杨建
;
刘志维
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
刘志维
;
汪迪
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
汪迪
;
张先俊
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
张先俊
.
中国专利
:CN220752138U
,2024-04-09
[3]
芯片测试治具
[P].
唐甘霖
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唐甘霖
.
中国专利
:CN213149029U
,2021-05-07
[4]
芯片测试治具
[P].
崔强
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崔强
;
许招辉
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许招辉
.
中国专利
:CN214895433U
,2021-11-26
[5]
芯片测试治具
[P].
何煦
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何煦
.
中国专利
:CN201434875Y
,2010-03-31
[6]
芯片测试治具
[P].
顾明华
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顾明华
.
中国专利
:CN213578641U
,2021-06-29
[7]
芯片测试治具
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
杨鹏亮
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杨鹏亮
.
中国专利
:CN218298437U
,2023-01-13
[8]
芯片测试治具
[P].
刘凯
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刘凯
;
郭靖
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郭靖
;
施元军
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施元军
;
高凯
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高凯
;
殷岚勇
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殷岚勇
.
中国专利
:CN204303758U
,2015-04-29
[9]
芯片测试治具
[P].
张磊
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张磊
;
庄爱萍
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庄爱萍
.
中国专利
:CN216595194U
,2022-05-24
[10]
芯片测试治具
[P].
李祥争
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机构:
上海思立微电子科技有限公司
上海思立微电子科技有限公司
李祥争
;
刘文涛
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机构:
上海思立微电子科技有限公司
上海思立微电子科技有限公司
刘文涛
.
中国专利
:CN221124787U
,2024-06-11
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