学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

芯片测试治具

被引：0
申请号：
CN202221748937.3
申请日：
2022-07-07
公开(公告)号：
CN218298437U
公开(公告)日：
2023-01-13
发明(设计)人：
孙成思 孙日欣 杨鹏亮
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
G01R104
代理机构：
深圳市华勤知识产权代理事务所(普通合伙) 44426
代理人：
隆毅
法律状态：
授权
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2023-01-13 授权 授权
共 50 条
[1]
芯片测试治具 [P]. 
李祥争 ;
刘文涛 .
中国专利 :CN221124787U ,2024-06-11
[2]
芯片测试治具 [P]. 
崔强 ;
许招辉 .
中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26
[3]
芯片测试治具 [P]. 
何煦 .
中国专利 :CN201434875Y ,2010-03-31
[4]
一种芯片测试治具 [P]. 
李刚 .
中国专利 :CN214041653U ,2021-08-24
[5]
芯片测试治具 [P]. 
杨建 ;
刘志维 ;
汪迪 ;
张先俊 .
中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09
[6]
芯片测试治具 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22
[7]
芯片测试治具 [P]. 
唐甘霖 .
中国专利 :CN213149029U ,2021-05-07
[8]
芯片测试治具 [P]. 
顾明华 .
中国专利 :CN213578641U ,2021-06-29
[9]
芯片测试治具 [P]. 
刘凯 ;
郭靖 ;
施元军 ;
高凯 ;
殷岚勇 .
中国专利 :CN204303758U ,2015-04-29
[10]
芯片测试治具 [P]. 
刘孜 ;
谢登煌 .
中国专利 :CN119780682A ,2025-04-08
12345