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芯片测试治具
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN202322859606.8
申请日：
2023-10-24
公开(公告)号：
CN221124787U
公开(公告)日：
2024-06-11
发明(设计)人：
李祥争
刘文涛
申请人：
上海思立微电子科技有限公司
申请人地址：
201210 上海市浦东新区自由贸易试验区张江路505号电梯楼层12楼01-08单元（实际楼层为11楼）
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
G01R1/04
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
韩嫚嫚;陈烨
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-06-11 | 授权 | 授权 |