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芯片测试治具
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202322161553.2
申请日
:
2023-08-11
公开(公告)号
:
CN220709213U
公开(公告)日
:
2024-04-02
发明(设计)人
:
何正鸿
陶毅
陈泽
宋祥祎
申请人
:
甬矽半导体(宁波)有限公司
申请人地址
:
315400 浙江省宁波市余姚市中意宁波生态园兴舜路22号
IPC主分类号
:
G01R1/04
IPC分类号
:
G01R31/28
H05K7/20
代理机构
:
北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463
代理人
:
刘锋
法律状态
:
授权
国省代码
:
浙江省 宁波市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-04-02
授权
授权
共 50 条
[1]
芯片测试治具
[P].
杨建
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
杨建
;
刘志维
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
刘志维
;
汪迪
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
汪迪
;
张先俊
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机构:
深圳市华芯智能装备有限公司
深圳市华芯智能装备有限公司
张先俊
.
中国专利
:CN220752138U
,2024-04-09
[2]
芯片测试治具
[P].
孙圣钦
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孙圣钦
.
中国专利
:CN209673621U
,2019-11-22
[3]
芯片测试治具
[P].
唐甘霖
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唐甘霖
.
中国专利
:CN213149029U
,2021-05-07
[4]
芯片测试治具
[P].
崔强
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崔强
;
许招辉
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许招辉
.
中国专利
:CN214895433U
,2021-11-26
[5]
芯片测试治具
[P].
何煦
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何煦
.
中国专利
:CN201434875Y
,2010-03-31
[6]
芯片测试治具
[P].
顾明华
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顾明华
.
中国专利
:CN213578641U
,2021-06-29
[7]
芯片测试治具
[P].
孙成思
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孙成思
;
孙日欣
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孙日欣
;
杨鹏亮
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杨鹏亮
.
中国专利
:CN218298437U
,2023-01-13
[8]
芯片测试治具
[P].
刘凯
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刘凯
;
郭靖
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郭靖
;
施元军
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施元军
;
高凯
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高凯
;
殷岚勇
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殷岚勇
.
中国专利
:CN204303758U
,2015-04-29
[9]
芯片测试治具
[P].
张磊
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张磊
;
庄爱萍
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庄爱萍
.
中国专利
:CN216595194U
,2022-05-24
[10]
芯片测试治具
[P].
谢森华
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谢森华
.
中国专利
:CN207923960U
,2018-09-28
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