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一种用于芯片测试的测试治具及芯片测试设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411202823.2
申请日：
2024-08-29
公开(公告)号：
CN118980913A
公开(公告)日：
2024-11-19
发明(设计)人：
文根发
金鹏
申请人：
苏州联讯仪器股份有限公司
申请人地址：
215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
代理机构：
北京智汇东方知识产权代理事务所(普通合伙) 11391
代理人：
赵云秀
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省
常州市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2024-12-06 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20240829 |
| 2024-11-19 | 公开 | 公开 |